光学表面轮廓仪
光电查提供光学表面轮廓仪详细介绍包括：厂家信息，品牌信息以及型号信息。
ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格为精确和可重复的非接触式表面计量设定了新的基准。小尺寸系统在精简的封装中提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力，该封装结合了数十年专有的布鲁克白光干涉（WLI）创新技术。新一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的工作台，可实现更大的拼接能力，以及新的测量模式USI，可为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供更大的便利性和灵活性。没有比Contour
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Light Source Type: CW LED, Modulated LED
Light Source Wavelength: --nm
Sample Reflectivity: 0.05 - 100 %
Vertical Range: 10000000nm
RMS Repeatability: <0.01 nm
RMS Precision: <0.01 nm
ContourX-200光学轮廓仪完美融合了先进的特性、可定制的选项和易用性，可实现一流的快速、精确和可重复的非接触式3D表面计量。使用更大的FOV 500万像素数码相机和新的电动XY平台，可测量的小尺寸系统提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力。ContourX-200拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，提供了布鲁克公司专有的白光干涉（WLI）技术的所有行业公认的优势，而没有传统共焦显微镜和竞争标
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Light Source Type: CW LED, Modulated LED
Light Source Wavelength: --nm
Sample Reflectivity: 0.05 - 100 %
Vertical Range: 10000000nm
RMS Repeatability: <0.01 nm
RMS Precision: <0.1nm
ContourX-500光学轮廓仪是世界上较全面的自动化台式系统，用于快速、非接触式3D表面计量。可测量的ContourX-500拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并以更小的尺寸提供布鲁克白光干涉（WLI）落地式模型的所有行业公认的优势。从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制（QA/QC）计量到眼科和MEMS器件的研发表征，Profiler可针对较广泛的复杂应用轻松定制。
Light Source Type: CW LED, Modulated LED
Light Source Wavelength: --nm
Sample Reflectivity: 0.05 - 100 %
Vertical Range: 10000000nm
RMS Repeatability: <0.01 nm
RMS Precision: <0.01 nm
厂商:STEMMER IMAGING
分类：光学表面轮廓仪
TREVISTA CAM缩小了智能相机的简单应用与苛刻的表面检测任务之间的差距。它基于获得专利的TREVISTA照明，并结合了功能强大的智能相机，预装了Teledyne Dalsa的Inspect或Sherlock机器视觉软件。CVS TREVISTA Cam非常适合需要检查零件的地形和纹理细节的应用，即使它们是具有挑战性的光滑/弯曲表面或装饰零件。预先配置的系统意味着您可以立即打开包装并开始测试
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Light Source Type: CW LED
Light Source Wavelength: --nm
Sample Reflectivity: 1 - 1 %
Vertical Range: --nm
RMS Repeatability: <0.001 nm
RMS Precision: <0.001 nm
厂商:STEMMER IMAGING
分类：光学表面轮廓仪
功能强大的CVS Trevista Flat采用了Trevista圆顶几何形状，并将其简化为平面和紧凑的格式。照明控制器集成到该单元中，使集成到检测系统中变得容易，并使价格敏感的应用成为可能。由于采用扁平设计，不仅可以检测静止物体的表面，还可以检测移动部件的表面。这开启了灵活的处理概念，如玻璃旋转板以及圆柱表面和板材的检查。CVS TREVISTA平板所使用的&aposSHAPE FROM SHA
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Light Source Type: CW LED
Light Source Wavelength: --nm
Sample Reflectivity: 1 - 1 %
Vertical Range: --nm
RMS Repeatability: <0.001 nm
RMS Precision: <0.001 nm
厂商:Spectrum Metrology Ltd
分类：光学表面轮廓仪
这款较新的便携式车间轮廓系统以Talysurf系列的形式提供了32mm的宽范围，以适应典型组件上的较大功能，并具有足够的分辨率来检测较小的轮廓偏差（120nm）（超精度模式在6.4mm范围内提供25nm）。20mm范围拾取选项提供75nm分辨率（在4mm范围内提供15nm）。
Light Source Type: CW LED
Light Source Wavelength: 120nm
Sample Reflectivity: 1 - 1 %
Vertical Range: --nm
RMS Repeatability: <0.01 nm
RMS Precision: <0.1nm
厂商:
分类：光学表面轮廓仪
Taylor Hobson的新款Intra Touch是其用于表面光洁度、形状和可选轮廓分析的车间测量解决方案系列中的较新产品，它在触摸屏平板电脑上集成了用户友好的TalyProfile软件。
Light Source Type: CW LED
Light Source Wavelength: --nm
Sample Reflectivity: 1 - 1 %
Vertical Range: --nm
RMS Repeatability: <0.01 nm
RMS Precision: <0.1nm
厂商:
分类：光学表面轮廓仪
Aylor Hobson的Form Talysurf PGI（相位光栅干涉仪）是一款用于高精度自由曲面光学测量的全方位、高分辨率三维自由曲面轮廓仪。它执行自由光学的表面光洁度和形状分析。Taylor Hobson的Form Talysurf®PG Freeform以数十年的测量经验、超精密制造专业知识和FEA优化设计为基础。这些提供了测量轴的低噪音和近乎完美的机械执行。通过新的专用软件界面，可以轻
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Light Source Type: Coherent Continuous Wave (CW)
Light Source Wavelength: 800nm
Sample Reflectivity: 1 - 1 %
Vertical Range: --nm
RMS Repeatability: <0.001 nm
RMS Precision: <0.001 nm
厂商:
分类：光学表面轮廓仪
Aylor Hobson Stylus光学轮廓仪：Form Talysurf PGI Matrix易于设置、测试和分析单个或多个零件。该仪器是一种完美的光学表面形状测量系统，可快速准确地测试直径达200毫米的光学元件。模块化系统，可适应不同的预算和技术需求。Form Talysurf PGI Matrix是一款完美的全方位仪器，适用于从小型手机镜头到大型天文光学的全自动2D和3D光学计量。当测量速
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Light Source Type: Coherent Continuous Wave (CW)
Light Source Wavelength: --nm
Sample Reflectivity: 1 - 1 %
Vertical Range: --nm
RMS Repeatability: <0.001 nm
RMS Precision: <0.001 nm
厂商:
分类：光学表面轮廓仪
Taylor Hobson Form Talysurf PGI（相位光栅干涉仪）-接触式表面光度仪/设备可测量大垂度透镜（表面形状）、塑料透镜、小型组件、红外玻璃和直径达300mm的晶体，精度高，是光学制造商的优选仪器。1984年首次发布后，Form Talysurf迅速成为光学制造商测量非球面形状误差的优选工具。从那时起，我们已在全球安装了数千台，成为真正的行业标准。我们的专利PGI（相位光栅干
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Light Source Type: Coherent Continuous Wave (CW)
Light Source Wavelength: 2nm
Sample Reflectivity: 1 - 1 %
Vertical Range: --nm
RMS Repeatability: <0.001 nm
RMS Precision: <0.001 nm
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